Infineon 600V coolmos ™ C7 超结( sj ) mosfet 系列的关闭损耗( e oss )比 coolmos ™ cp 减少 ∼50% ,在 pfc 、 ttf 和其他硬切换拓扑结构中提供卓越的性能水平。IPL60R185C7 还是高功率密度充电器设计的完美匹配。
可提高切换频率、而不会降低效率
测量显示轻负载和满负载效率的关键参数
将切换频率加倍将使磁性元件的尺寸减半
适用于相同 r ds ( on )的较小封装
可用于更多位置、用于硬切换和软切换拓扑
属性 | 数值 |
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通道类型 | N |
最大连续漏极电流 | 13 A |
最大漏源电压 | 600 V |
封装类型 | DPAK (TO-252) |
引脚数目 | 3 |
最大漏源电阻值 | 180 米Ω |
通道模式 | 增强 |
最大栅阈值电压 | 4V |
晶体管材料 | Si |
每片芯片元件数目 | 1 |