产品的品质保证作为生产过程中的重要环节越来越受到厂商的重视。根据machinist.in的一份最新报告，“Frost ＆ Sullivan公司预测，在未来五年，测试与测量设备市场的年均复合增长率（CAGR）将达到30%。”这表明，在市场需求的推动下，厂商对于测试与测量设备的投入将不断增加。
由于被测试设备的复杂性越来越高，基于开放式架构的自动测试系统变得越来越重要，该系统通过为工程师提供更多的灵活性与兼容性，满足不断变化的市场需求，缩短了产品的开发周期。区别于传统的计算平台，测试平台需要针对不同的测试对象不断调整，以满足测试设备的需求。
研华产品系列
以半导体自动测试设备（ATE）为例，不论在晶圆和封装阶段，利用多种仪器或
数据采集卡测试内存、数字量、混合信号及片上系统（SOC）组件的各种参数。在消费者、计算和通信市场需求的推动下，这些测试系统在不断发展。在半导体行业若想不断创新突破，ATE
测试设备必须提供比以往更多的功能和更快的速度。
此外，一旦出现软件支持问题或接口兼容受限，测试测量设备会很快被淘汰，当采集数据由一个模块向另一个模块转移时，成本、软件支持受限和编程等问题便至关重要。
鉴于以上因素，测试程序是否采用领先、可靠的系统和技术对于使用者至关重要。26年来，研华开发了高品质的模拟量与数字量生产测试解决方案。今天，研华结合开放式架构，采用可靠的硬件设计和坚固的平台，为厂商和测试者提供了最先进的工业自动化产品和服务。
