任何分析仪器，在讲它的技术指标时，都必须首先讲这个指标的测试方法。目前，国际上对紫外可见分光光度计的基线平直度的测试方法，一般是：冷态开机，预热半小时后，试样和参比比色皿都为空气，光谱带宽SBW= 2nm、吸光度值为O，从长波向短波方向对仪器进行全波长慢速（或中速）扫描。在全波长范围内，找出峰—峰(P-P)值中最大的一点，作为该仪器的基线平直度。目前，有许多科技工作者不注意这个问题；如，日本某紫外可见分光光度计，给出的仪器波长范围是190～900nm，给出的基线平直度BF为±O，OO1;但是笔者经测试后发现该仪器的基线平直度只能在200～800nm内才能保证为±O．001。这就意味着该仪器能保证 基线平直度为±O．001的使用波长范围只能是200～800nm。这种给基线平直度的方法是不对的。它既偏离了基线平直度的定义（每个波长上的噪声），又会误导使用者，会使使用者误认为该仪器在190～900nm都能达到光度噪声为±O．001。特别值得注意的是，还有的把基线平直度和基线漂移混为一谈！如某公司，他们对某紫外可见分光光度计给出了“基线參移为±0. 002  (200--- 950nm，”和“基线漂移为N/A”的技术指标。显然，这里的“基线漂移”，是指的基线平直度。而该仪器的波长范围为190一llOOnm，但对波长范围为190一llOOnm的仪器，只给200一950nm的基线平直度是不符合基线平直度的定义的！尤其，对某仪器给出的。基线漂移为N/A”，这种给法更是莫名其妙。另外，该公司又给出了某紫外可分光光度计仪器的“基线稳定性为O．001/h”，但未给出基线平直度。很显然，该旬既未搞清稳定性的概念，又把基线平直度和500nm处的光度噪声混为一谈了。

笔者认为，在基线平直度的表示方法和测试方法上产生上述现象的原因，主要有三个：

第一，不懂得基线平直度的重要性，随便乱写；

第二，既未搞清基线平直度的物理概念，又未去认真研究，只好人云亦云；

第三，为了商业上的需要。