在熔接某些特种光纤亦或是不同种光纤对熔的时候，熔接后的损耗往往不太理想，如果在熔接机的既有模式里面不能找到相对应的模式的话，就需要我们手动进行测试来找到符合自己光纤的最合适的熔接参数，下面我就来介绍一下调整参数的办法，适用于藤仓的干线熔接机60S，80S，包括最新的61S以及62S。

　　注意点

　　注意①切割角度需要在1°以内进行熔接。

　　注意②进行熔接损耗平均值比较的时候,和平均值有15%以上差距的判断为变好或者变坏.

　　注意③需要使用新的电极棒。

　　注意④本说明书适用于包层为两端同样为125um的光纤进行熔接.

　　注意⑤以本说明书最后的测试方法来测定熔接损耗.

　　Step1放电时间（ArcTime）的最优化

　　Step1-1.放电1时间的设定。

　　(1)放电1时间→1000[ms]

　　(2)放电1时间→2000[ms]

　　(3)放电1时间→3000[ms]

　　(4)放电1时间→4000[ms]

　　(5)放电1时间→5000[ms]

　　在4次多项式曲线上面确定熔接损耗最低条件下的放电1时间T2[ms]，

　　将其设定为放电1时间。

　　Step1-2.放电1时间的最优化。(可能的话最好使用3台机器进行)

　　①将放电1时间用以下方式进行设定熔接(每种的熔接次数N=5)。

　　(1)放电1时间→T1[ms]

　　(2)放电1时间→T1×0.9[ms]

　　(3)放电1时间→T1×1.1[ms]

　　②在4次多项式曲线上面确定熔接损耗最低条件下的放电1时间T2[ms]，

　　将其设定为放电1时间。

　　Step2较低放电功率下进行熔接

　　通常情况下不需要进行此步骤。

　　日本藤仓只在对80um光纤进行熔接参数设置的时候才会做这一步。

　　或者是在放电时间特别短例如1秒以下，亦或是仍然还需要降低损耗的情况下可以尝试。

　　将放电功率以20bit为单位下降，然后再次调整放电时间，确认是不是能够改善损耗。

　　放电时间或者损耗有所改善的话说明STEP2可行。

　　熔接损耗的优劣差别如果达不到15％的话，还是选择原有的放电功率。(因为弱放电功率的情况下，Prefuse可能不能将光纤端面充分融化，比较容易造成熔接后的纤芯偏移)

　　Step3端面间隔位置（GAPPOS.）的最优化

　　在同种光纤熔接的情况下不需要进行。

　　端面间隔位置用以下的设定来进行熔接实验测试(每种测试次数N=5)。

　　(1)端面间隔位置→中心(Step1已经得到了数据)

　　(2)端面间隔位置→左-15um＋测试观察结果

　　(3)端面间隔位置→左-30um＋测试观察结果

　　(4)端面间隔位置→右-15um＋测试观察结果

　　(5)端面间隔位置→右-30um＋测试观察结果

　　选择熔接损耗最低的作为最优。

　　Step4.光纤预熔时间（PrefuseTime）的最优化

　　一般设定为180ms.

　　MM光纤为240ms（为了对应气泡的产生设置为长时间）

　　80um光纤为60ms

　　一般以上面3种情况进行选择就可以，多数情况不需要特意变更。

　　Step5.重叠（Overlap）的最优化

　　一般设定为10um

　　MM光纤为20um（为了对应气泡预熔时间增长，相应推进量也要增加）

　　MM光纤之外变化基本上没有什么意义。

　　Step6.聚焦（Focus）的最优化

　　对纤芯对准才有效。

　　如果不能看见纤芯的话就算变化率聚焦量也会切换为包层对准

　　数值的设定量在AUTO以外一般是0.25或0.3．

　　G．657光纤一般使用包层对准

　　纤芯比较小的时候，例如5um的话设置为0.3，

　　一般情况下设置为0.25

　　需要注意的是大多数的情况下，对损耗起到最大影响的是放电时间，对于大多数的光纤只需调整放电时间就可以起到理想的效果。

　　N=30熔接数据测试

　　以之前确定的最佳放电条件参数进行测试(N=30)。

　　用以下图示的方法进行测试。

　　需要设备

　　(1)LightSource：AgilentHP-8163A、HP-81654A

　　(2)PowerMeter：AgilentHP-8163A、HP-81618A

　　(3)OpticalSensor：AgilentHP-81524A、81624A

　　(4)IntegratingSphere：AgilentHP-81002FF

　　测试方法

　　1.同种光纤熔接

　　2.同种光纤熔接