在使用厚度测量仪器的时候，在正常的操作过程中，有时会发现测量的数据与实际的要求有所偏差，或者是测量次数多了，数据的比较会发生小许的变化，这是什么原因造成的呢？针对用户的问题，南北潮商城在实际的经验以及和客户的沟通中总结一下9点影响厚度测量仪器精准度的因素供各位参考。

一、基体厚度

在进行覆层厚度测量时 ，对被测样品的薄厚有基本的要求，要给出一个基体的既定最小厚度值，能够全部将探头的磁场包裹在被测样品的金属中。 所给出的既定最小厚度值与被测样品的性质有关，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响，不用再修整所测量的结果。 如果基体的厚度达不到标准，所检测到的数据就会有偏差，就不是最精准的，这种情况下就需要使用同材质的物体紧贴在被测样品上再进行测量。 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。

二、边界距离

当探头与被测样品边界 、孔眼 、空腔 、其他截面变化处的距离小于规定的边界距离时， 由于涡流载体截面不够将产生测量误差。 因此，在靠近被测样品边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 如果必须测量该点的覆层厚度时，需预先在相同条件的无覆层表面进行校准。

三、曲率半径

被测样品的曲率半径对测量结果有影响 。 随着被测样品曲率半径的减小， 对测量结果的影响明显增大，因

此，在弯曲样品的表面上进行测量是不可靠的。

四、表面粗糙度

粗糙表面会引起系统误差和偶然误差 ，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。 在粗糙表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。 显而易见，不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。 基体金属和覆盖层的粗糙度越大，对测量结果的影响就越大。 为获得可靠的测量数据，基体的平均粗糙度 Ra 应小于覆层厚度的 5%。

五、表面清洁度 

应去除表面的杂质 、 油污等 ， 以保证仪器测头和被测试件表面能够直接接触。

六、探头压力

探头置于试件上 ，所施加的压力大小会影响测量的读数。 理论上讲，探头进行检测时所使用的力应该是一成不变的， 但实际测量过程中由于操作者的不同或操作者的经验不足，往往不能严格保持检测时所使用的力一成不变。 因此，改变力应尽量最小化，这样对于软的覆盖层才不会出现变形情况，导致检测数据不准确。 需要时，可以在探头以及被检测物体之间增加具有相当厚度的绝缘的硬性薄膜， 在检测结果中减掉薄膜的厚度就能够得到想要的结果。

七、探头方向

探头的放置方式对测量有影响 。 在测量过程中，应当使探头与被测样品表面保持垂直。

八、磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场会严重地干扰磁性法测厚工作。 测量应该避免在有干扰作用的外界磁场附近开展，根据检测仪器的性能、残存的剩磁可能导致或多或少的测量误差， 但是结构钢、 深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。

九、覆层材料中的铁磁成分和导电成分

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响。 为了避免受到热处理和冷加工因素的影响， 应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，亦可用待涂覆试件进行校准。