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PHYNIX菲尼克斯Surfix?Pro系列干膜测厚仪对比表

发布日期:2022-10-09 点击率:56

Surfix?Pro系列干膜测厚仪是菲尼克斯PHYNIX一款主打专业特征的干膜测厚仪,本文罗列其Surfix?Pro全系列干膜测厚仪对比。可以看出,相较于国内测厚仪厂家在命名方式上而言,国外将更加规范,不论美国的Defelsko(狄夫斯高)还是PHYNIX(菲尼克斯),其F、N的标识都让人一看就懂。PRO系列测厚仪主要区别在于测量原理以及测量范围上,从硬件角度而言则主要表现在探头上的不同。



对比品类Surfix? Pro FN0.2Surfix? Pro F 1.5RSurfix? Pro F 20Surfix? Pro F 3.5Surfix? Pro FN 1.5RSurfix? Pro F 10Surfix? Pro FN 3.5Surfix? Pro FN 1.5/90°
产品图Surfix?Pro干膜<a title=测厚仪"/>
品牌菲尼克斯
产地德国德国德国德国德国德国德国德国
规格对比
测量原理电磁感应+电涡流电磁感应电磁感应电磁感应电磁感应+电涡流电磁感应电磁感应+电涡流电磁感应+电涡流
测量范围0~200μm0~1500 μm0~20000μm0~3500 μm0~1500 μm0~10000μm0~3500μm (F);0~3000 μm (N)0~1500 μm
误差范围±2.5%+/– 3μm或3%+/– 5μm或3%+/– 3μm或3%+/– 10μm或3%+/– 5μm或3%
分辨率0.1μm
探头FN0.2标准外接探头:?14x 83mm 零校精度+/– (0.7μm+1.5 %)   铝箔校准精度+/– (0.7μm+1,0 %)F 1.5R特殊外接探头?14x14x14mm 零校精度+/– (1.0 μm + 2   %) 铝箔校准精度+/– (1.0 μm + 1 %)F 20特殊外接探头?50x 57mm 零校精度+/– (10 μm + 4 %)   铝箔校准精度+/– (10 μm + 2 %)F 3.5特殊外接探头?14x83mm 零校精度+/– (2.0 μm + 2 %)   铝箔校准精度+/– (2.0 μm + 1 %)N1.5标准外接探头?14x 24 x 24mm 零校精度+/– (1.0 μm +   2 %) 铝箔校准精度+/– (1.0 μm + 1 %)F 10特殊外接探头?25x 47mm 零校精度+/– (5.0 μm + 2 %)   铝箔校准精度+/– (3.0 μm + 1 %)FN 3.5特殊外接探头:? 25x 47mm 零校精度+/– (2.0 μm + 2   %) 铝箔校准精度+/– (2.0 μm + 1 %)FN 1.5/90°特殊外接探头:? 8x 11 x 170mm 零校精度+/–   (1.0 μm + 2 %) 铝箔校准精度+/– (1.0 μm + 1 %)
统计功能n, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpkn, xˉ , s, Min, Max, Kvar, cp, cpk
图示功能
重量(g)205+70g205+90g205+200g205+105g205+90g205+85g205+105g205+90g
尺寸(mm)137×66×23137×66×23137×66×23137×66×23137×66×23137×66×23137×66×23137×66×23
供电形式2节AAA电池
满足标准DIN,ISO,BS ASTM
校准证书出厂证书
系统语言多语言菜单
显示屏幕高分辨率彩色显示器 背光
数据接口蓝牙4和USB 2接口
配套软件phynix.connect数据传输软件
友情提醒:本页为Surfix?   Pro系列干膜测厚仪对比表,请详细阅读官方资料。



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